交流阻抗是一种广泛应用于许多电化学领域的实验方法。尽管现代计算机技术使其应用变得非常容易，但用户必须认真处理好
交流阻抗测试的基本条件，才能得到可靠的结果。其中一个重要条件就是研究对象的稳定性。并不是所有研究对象（例如电池），也不是在所有条件下（例如长时间测量）都能保证测试系统的稳定性，在这些情况下测量的数据可能会不可靠而导致误解。然而在大多数情况下，并不能简单的看出测量数据的可靠性。
Zahner ZHIT 算法是一种能够检测这种不可靠性的工具，此外它还能从测量的相位数据中重建其阻抗数据。
1.ZHIT 介绍
ZHIT 表示“Impedance (Z)- Hilbert -Transformation”阻抗（Z）-希尔伯特-转换。ZHIT 算法是与电化学阻抗谱（EIS）相关的计算技术,与 Kramers-Kronig 对比，当研究体系与较小相位体系相关时，ZHIT 能够处理这种情况。这种体系也称为两极体系。两极或较小相位体系实际上反映的是没有信号延迟的体系。
在这种情况下，ZHIT 提供了检查被测对象的稳定性和互感性的可能性。体系不稳定性会在低频区出现漂移现象，互感性问题出现在较高频率范围的 EIS 谱图中，特别是研究低阻抗体系时，这种情况更明显。ZHIT 技术除了能验证阻抗谱图的可靠性之外，还可以通过相位曲线重建修正后的原始阻抗数据，从而再进行阻抗拟合操作。
2.非稳定性
测试对象在测量过程中的不稳定性经常会妨碍 EIS 数据的分析。这种现象经常出现在许多电化学阻抗谱的应用中，例如放电条件下对燃料电池和电池的评价、光照下对光敏体系的研究（即光致变色），或者对金属表面的油漆和涂层的吸水性研究（即腐蚀防护）等。以时间漂移系统为例，充放电循环过程中的锂离子累加器由于电池内发生的氧化还原反应，使得锂离子累加器的充电状态不断改变，从而影响参与反应物的浓度，这种不稳定因素就会导致电池在充放电过程中的时间漂移。
用理论方法分析这种不稳定体系的电化学阻抗谱是比较困难的。而借助 ZHIT 算法便可以检测出类似上述不稳定因素而造成的一些错误假象。此外，ZHIT 算法所获得的信息可用于重建因果阻抗谱图，重建的阻抗谱图符合 Kramer-Kronig 关系。所以，这种 ZHIT 算法技术的可靠性成为可能。
3.运算步骤
Z-HIT 算法的运算过程如图 1 所示。
图 1：测量数据的平滑化和Z-HIT 方程分量的计算
在步（图 1.1）中，为了获得连续的曲线（样条曲线），对阻抗和相位这两组测量数据进行了平滑处理。在第二步中，通过相位的样条曲线重新计算其阻抗曲线。这时从高频到低频（图 1.2，绿色曲线）范围内相位偏移被积分。为了能正确重建阻抗数据曲线， 根据该特定频率下的相位偏移斜率确定其阻抗谱图的校正系数（图 1.3）。这样我们就得到了一个重建的曲线，理论上它与原始测量的阻抗数据平行，但是在 y 轴方向上有偏移
（图 4）。后，重建的曲线向原数据曲线移动，位移数值从原始的阻抗谱图中所相关的频率范围内计算出。下一章节进一步讨论这种抵消假象的频率范围。
